5120A數(shù)字化相位噪聲分析儀，不僅可測量相位噪聲同時可測量頻率穩(wěn)定度，相位差，頻率差，還可以作為高精度頻率計使用. 全數(shù)字化測量的獨有專利技術(shù)不僅使測量的速度大大縮短而且有效地提高了相位噪聲測試精度。不再像其他模擬相位噪聲測試儀需要搭建平臺，簡單易用的設(shè)備使測試成本得到降低。

 

高精度，高性價比的即時測量

5120A——全數(shù)字化、高性能相噪與阿倫方差分析儀，實現(xiàn)精確的相位噪聲和阿倫方差測量功能的同時，簡化操作并節(jié)約成本。傳統(tǒng)模擬分析儀器需要外部鎖相環(huán)，致使此類測量儀器復(fù)雜、昂貴。相比傳統(tǒng)儀器，創(chuàng)新的5120A相位噪聲儀只要點擊一下按鈕，就能快速、準(zhǔn)確地測量SSB相位噪聲和阿倫方差。

全數(shù)字化的5120A簡化了復(fù)雜的操作配置和校準(zhǔn)步驟：用戶只需直接連接被測器件(DUT)和參考信號,不要求參考源頻率必須與DUT同頻，再按下5120A的綠色“Start”鍵，高分辨率屏上就會顯示精準(zhǔn)的測量數(shù)據(jù)。

5120A是Microsemi（并購了Symmetricom公司）融合了業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)阿倫方差測量設(shè)備：5110A，所開發(fā)的新一代產(chǎn)品。除了優(yōu)異的阿倫方差測量能力， 5120A還提供相位噪聲測量，其精度達到±1.0 dB（以前不可能達到的級別）。結(jié)合準(zhǔn)確的相位噪聲和阿倫方差測量底噪，5120A能更精準(zhǔn)地測量最低相噪。

Microsemi（并購了Symmetricom公司）精通于相位噪聲、阿倫方差測量技術(shù)，善于應(yīng)用高速低噪聲模數(shù)轉(zhuǎn)換技術(shù)的優(yōu)點，從而結(jié)合多種測量工具，集成為單機解決方案。使5120A 在進行更精準(zhǔn)的測量同時，仍可維持較低的成本。

用戶可根據(jù)需要添加5120A內(nèi)部基準(zhǔn)振蕩器，這單機解決方案（即5120A-01）節(jié)省尋找和校準(zhǔn)外部參考源的時間，只要連接DUT至5120A-01，即可開始精確的測量。

5120A取代過去的復(fù)雜，昂貴的測量儀器，讓測量變得更加快捷、簡便、精準(zhǔn)、經(jīng)濟。

 

主要特性/優(yōu)點:

同時測量相噪和阿倫方差

1 - 30 MHz頻率范圍

即時顯示測量結(jié)果: 無需外部數(shù)據(jù)處理

領(lǐng)先的工業(yè)級精度(±1.0 dB)

實現(xiàn)不同頻率間的測量

阿倫方差測量（超過300天）

相位噪聲測量接近載波處的0.1 mHz

無需測量校準(zhǔn)，節(jié)省測試時間

實時顯示測量結(jié)果

供用戶選配：內(nèi)部參考振蕩器

最佳性價比解決方案

直觀的遠程網(wǎng)絡(luò)管理和數(shù)據(jù)獲取

易于操作的圖形用戶界面

相位噪聲測試低至-175 dBc/Hz

品質(zhì)源于傳承

5120A是Microsemi（并購了Symmetricom公司）在NIST和民用產(chǎn)業(yè)超過20年的研究探索的智慧結(jié)晶。5120A多功能測試儀結(jié)合了業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)級阿倫方差測試儀：5110A的優(yōu)勢，具有業(yè)內(nèi)最高水準(zhǔn)的相位噪聲測量能力。

卓越的準(zhǔn)確度

由于5120A的數(shù)字相位偵測器，5120A 成為最精準(zhǔn)的工業(yè)測量儀器。 NIST曾校準(zhǔn)一臺5120A樣機，并證實其準(zhǔn)度高達±1.0 dB，是業(yè)界最高準(zhǔn)確度。5120A的阿倫方差測量也是工業(yè)級的領(lǐng)航者： <3E-15@1秒。

超寬范圍的測量能力

5120A支持最大范圍的相位噪聲和阿倫方差測量，適用于任何商業(yè)上產(chǎn)品。第一步通過把DUT和參考源信號轉(zhuǎn)換數(shù)字信號，5120A采用獨有專利的全數(shù)字化設(shè)計，測量時無需進行載波抑制，因此，能在最小頻偏下(<0.1 mHz)測量相位噪聲。同時，這項技術(shù)使5120A能夠連續(xù)300天以上進行阿倫方差測量。這些技術(shù)上的優(yōu)勢，讓客戶可以比以往更好地定性其高性能頻率源的水平。

先進的雜散檢測技術(shù)

5120A配備完善的運算法則，實時地檢測和標(biāo)識雜波。通過匹配濾波器，用窗口函數(shù)的傅立葉轉(zhuǎn)換，比較雜散信號響應(yīng)的波形，檢測雜波，并在顯示屏上用紅色標(biāo)識，如上圖5120A相位噪聲顯示屏截圖。值得信賴的專業(yè)雜散檢測技術(shù)，讓你更加快捷、方便地進行測量。

操作簡便

Microsemi（并購了Symmetricom公司） 結(jié)合廣泛的相噪和阿倫方差測量的專業(yè)知識，創(chuàng)造了一機式解決方案，具有直觀、簡單明了的GUI。5120A自身即可完成配置及校準(zhǔn)功能，因此無需專業(yè)技師觀察檢測，也能非常精確地完成測量任務(wù)，節(jié)省人力資源。如上圖所示5120A-01的電路連線，將DUT信號連接至“Input”端口，之后按下綠色“Start”鍵，5120A將自動啟動測量工作。

參考源和被測設(shè)備無需同一頻點

相較傳統(tǒng)測量系統(tǒng)，5120A不要求參考源的頻率必須與DUT頻率相同，要實現(xiàn)這項優(yōu)勢，5120A需合成兩個輸入頻率轉(zhuǎn)換成帶寬。

5120A的相位探測器擁有無限的帶寬范圍，無需鎖相兩個輸入。這意味著，只要有一個低噪?yún)⒖荚?，就能實現(xiàn)任何被測頻率下的精密測量。

多種輸出選擇

5120A滿足打印或進一步的數(shù)據(jù)分析的應(yīng)用需求。5120A只需連接兼容PostScript語言的打印機，設(shè)定好打印機，然后按下5120A上的‘Print’按鈕，就能直接打印5120A的測量數(shù)據(jù)。 還可以通過以太網(wǎng)連接口輸出測量數(shù)據(jù)到遠程計算機，這些數(shù)據(jù)可導(dǎo)入Stable32等行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)軟件進行頻率穩(wěn)定性分析。

無外部參考源的精密測量

有了可選配的高性能內(nèi)部參考振蕩器，5120A讓相位噪聲測量變得更加容易， 該設(shè)備采用抵消兩個內(nèi)部振蕩器通道間互相關(guān)噪聲的方法，使其能在兩個通道底噪下進行有效地測量。5120A-01可實現(xiàn)低至-168 dBc/Hz的精密測量，與具有相同性能參數(shù)并有外部參考振蕩器的相噪測試儀相比，成本大幅降低。不再需要花費大量的時間去尋找、校準(zhǔn)外部參考源，現(xiàn)在即可完全依賴于5120A-01。

全數(shù)字測試裝置的優(yōu)勢

5120A是結(jié)合尖端定時技術(shù)，并采用Microsemi（并購了Symmetricom公司）公司專利相位測量算法的先進測量設(shè)備。如上圖所示（5120A 結(jié)構(gòu)框圖），待測源和參考源信號進入5120A，立即被模數(shù)轉(zhuǎn)換電路轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號，這使5120A在無外部鎖相環(huán)的情況下，仍能進行精準(zhǔn)的測量，無需校準(zhǔn)測量。另外，全數(shù)字化設(shè)備5120A不要求參考源頻率必須和DUT同頻。

交叉相關(guān)技術(shù)

5120A 結(jié)構(gòu)框圖中并行的上行和下行通路，說明了該設(shè)備的互相關(guān)技術(shù)。在并行同步測量之后，5120A相交互兩通路離散傅立葉變換，以評估輸入設(shè)備的噪聲，同時抑制兩個測量子系統(tǒng)的獨立噪聲。從而實現(xiàn)最終測量結(jié)果比單通道設(shè)備更加接入底噪，更加精準(zhǔn)